《X射線珠層測厚儀校準規范》征求意見稿

12月初，京廣西壯族自治區質量技術監督局面向全體專家，為《X射線珠層測厚儀校準規范》征求意見。該規范由廣西壯族自治區計量檢測研究院和北海市計量測試研究所等共同提出并負責起草，適用以X射線成像、圖像采集處理方法測量珍珠珠層厚度的 X射線珠層測厚儀的校準。 　　

　　X射線珠層測厚儀是采用X射線透過被觀測物品，通過增強屏和CCD圖像傳感器，在計算機屏幕上實時顯示出被測物品的輪廓，配合圖像測量處理軟 件，即可測量物品的尺寸或位置關系。它是由國家珍珠及珍珠制品質量監督檢驗中心和廈門善思科技技術公司合作自主研發的儀器設備，具有四項國家發明專利。

　　在該領域的測量校準規范并不多，國家標準GB/T 18781-2008《珍珠分級》測量珍珠珠層厚度的檢測方法有3種，其中X射線法是目前用于檢測珍珠珠層厚度最常用的方法，而X射線珠層測厚儀是該方法 的主要測量儀器。2006年該儀器研制出來后沒有統一的地方校準規范，只有使用單位自己制定的自校規范，因此需要制訂《X 射線珠層測厚儀校準規范》的廣西地方標準，有利于珠層厚度檢測更加準確。

　　察覺到行業需求后，2013年10月正式立項開始著手擬定規范起草工作計劃，在查閱了有關資料并進行市場調研及實驗后，直至2015年8月完成 初稿。今年6月，廣西質量技術評價認證中心在南寧組織有關專家廣西地方校準規范《X 射線珠層測厚儀》送審稿進行了審定，并就校準規范送審稿 的規范性、適應性、可操作性等進行了認真、充分的討論，最終同意上報廣西壯族自治區質量技術監督局批準。

　　在制定過程中，該規范以JJF1071-2010《國家計量校準規范編寫規則》、JJF1001-2011《通用計量術語及定義》為基礎，參考 JJG480-2007《X 射線測厚儀檢定規程》和JJF1306-2011《X 射線熒光鍍層測厚儀校準規范》修改完善，最終形成了報批稿。

　　此外，遵從JJF1071-2010《國家計量校準規范編寫規則》的要求，此規范架構上包括封面、扉頁、目錄、引言、范圍、引用文件、概述、計量特性、校準條件、校準項目和校準方法、校準結果表達、復校時間間隔、附錄幾個部分。更多詳細情況請見附件。